光焱科技光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)IPCE量子效率測試

簡要描述：光焱科技光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)IPCE量子效率測試QE-R系統(tǒng)可以測試晶硅電池（Si），非晶硅電池（a-Si），多結(jié)電池（Tandem），染料敏化電池（DSSC），有機電池（OPV），銅銦鎵硒（CIGS），聚光電池（HCPV）等各種太陽能電池。

產(chǎn)品型號： QE-R

所屬分類：光焱量子效率測量系統(tǒng)

更新時間：2023-08-03

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

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詳情介紹

品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池
測量模式	交流	Dark?box	600mm?x?600mm?x?600mm

QE-R光譜響應(yīng)測試系統(tǒng) 產(chǎn)品特色:

特制高效率集光系統(tǒng)設(shè)計，高達70 %以上的集光，有效提高訊號強度，使量測更快更穩(wěn)定。
配備兩部鎖相放大器，同時達到即時監(jiān)控光強與訊號量測，提供較準確的量測結(jié)果。
整合電腦自動控制訊號切換器，可降低維修及耗材成本。
采用原裝多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，穩(wěn)定度高及掃描快速。
光源穩(wěn)定，可長時間持續(xù)測試，縮短實驗校正時間。
數(shù)據(jù)重復(fù)性高達99.5 %。
適用于量測各種材料之太陽能電池。

※以QE-R量測三節(jié)電池的EQE

※以QE-R比較不同結(jié)構(gòu)之HIT電池

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QE-R光譜響應(yīng)測試系統(tǒng) 產(chǎn)品特色:

特制高效率集光系統(tǒng)設(shè)計，高達70 %以上的集光，有效提高訊號強度，使量測更快更穩(wěn)定。
配備兩部鎖相放大器，同時達到即時監(jiān)控光強與訊號量測，提供較準確的量測結(jié)果。
整合電腦自動控制訊號切換器，可降低維修及耗材成本。
采用原裝多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，穩(wěn)定度高及掃描快速。
光源穩(wěn)定，可長時間持續(xù)測試，縮短實驗校正時間。
數(shù)據(jù)重復(fù)性高達99.5 %。
適用于量測各種材料之太陽能電池。

※以QE-R量測三節(jié)電池的EQE

※以QE-R比較不同結(jié)構(gòu)之HIT電池


※以QE-R量測硅基三節(jié)電池結(jié)構(gòu)的EQE	※QE-R量測太陽能電池的差異性小

QE-R光譜響應(yīng)測試系統(tǒng) 系統(tǒng)說明:

QE-R標準系統(tǒng)即具備IEC 60904-1、60904-7、60904-8要求之所有功能:

依據(jù)IEC 60904-8規(guī)范設(shè)計，可校正、量測光譜響應(yīng) / 量子效率。
采用德國Fraunhofer ISE同等級之白光偏光源，光源強度可達0~3個太陽光常數(shù)。
具備自動電壓偏壓功能，將電池穩(wěn)定的維持在短路條件，在測試量測光譜響應(yīng) / 量子效率時無須再外接一個電源供應(yīng)器，省去接線錯誤的麻煩。
量測太陽能電池材料能隙，提供客戶重要材料參數(shù)。
光譜不合致度因子(Spectral Mismatch Factor)計算，提供用戶較重要的修正參數(shù)。
全光譜短路電流密度計算(auto interlace演算)，可提供較準確的計算結(jié)果。
短路電流密度光譜，提供客戶作為材料分析、制程改進之關(guān)鍵資訊。
內(nèi)部量子效率計算功能，客戶可自行輸入反射率，計算內(nèi)部量子效率。

高效率集光系統(tǒng)，集光效果 > 70 %，較傳統(tǒng)透鏡集光系統(tǒng)高于一個數(shù)量級以上的光強度，提供系統(tǒng)*訊噪比與量測的準確性。
Czerny-Turner多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，高穩(wěn)定度、掃描快速，光譜范圍可達200 nm ~2000 nm。
雙光束光路設(shè)計:

同NIM、NIST、PTB國際一級校驗單位相同光路設(shè)計。
量測樣品光電流訊號同時監(jiān)控光強變化，確保量測的高度準確性。

訊號多工器，整合電腦自動控制訊號切換器，避免拉拔訊號線接頭所造成之損壞，降低維修及耗材成本。
優(yōu)異的信噪比，可達100 dB是整體系統(tǒng)優(yōu)化的結(jié)果，客戶無須再閱讀一般鎖相放大器厚重的操作手冊，無須自行優(yōu)化量測時的設(shè)定參數(shù)，避免人為操作的困擾與錯誤。
直流量測模式，客戶無須再拆裝任何硬體設(shè)備，直接將多功電表，模組化整合到系統(tǒng)內(nèi)部，大幅簡化硬體空間與拆裝的不便性。
高均勻度參考偵測器(Reference detector)。

QE-R光譜響應(yīng)測試系統(tǒng) 系?規(guī)格

項目	規(guī)格
儀器大小	600(W) x 600(D) x 610(H)mm集成系統(tǒng),不含作業(yè)計算機
重量	主體:80kg
量測模式	交流量測模式
量測波長	300nm~1100nm ,可擴展到2000nm
光班大小	2 x 2 m2或1 x 4 m2(可客制)
整合型光源系統(tǒng)	150WXQ光源系統(tǒng)（或75W Xe燈光源），光源不穩(wěn)定度<0.1%，可提供300nm~2000nm連續(xù)光源高效率橢圓集光鏡系統(tǒng)，具備三軸調(diào)整旋鈕燈源定時器
單光儀	Czerny-Turner多光柵單光儀 0.1nm波長解析，掃描范圍 200nm~2000nm
自動濾鏡轉(zhuǎn)輪	可裝載6片雜散光濾鏡可手動/計算機控制，具LED顯示
斬波器	4Hz~500Hz，計算機頻率控制
雙鎖相放大器	兩部DSP dual-phase鎖相放大器整合于系統(tǒng)內(nèi)，可同時擷取雙光束測試訊號
校正探測器	Si偵測器，10x10m2 有效面積內(nèi)不均勻度<0.5% 偵測能力200nm~1100nm 附300nm~1100nm光譜回應(yīng)追溯校驗報告
訊號切換多任務(wù)器	4對1計算機控制訊號切換多任務(wù)器
計算機系統(tǒng)	PC,LCD,Windows操作系統(tǒng)(需自備計算機桌)
軟件	EQE/SR量測控制軟件光強度校正多圖儲存與編輯能系分析功能自動切換參考偵測器與待測電池之訊號樣品訊號狀態(tài)顯示內(nèi)部量子效率計算(客戶輸入反射率) 全光譜短路電路密度計算(自動交錯算法) 短路電流密度光譜光譜不含致度因子計算軟件(自動交錯算法)
電力需求	可選110V或220V AC單相，<1KVA
操作環(huán)境	溫度:20 ℃~40 ℃，濕度:20%~80%
光強監(jiān)控模塊	300nm~1100nm，雙光束量測
偏壓電壓	0V~±5V

QE-R光譜響應(yīng)測試系統(tǒng) 選購功能

項目	規(guī)格
雙光源系統(tǒng)	Xe + QTH 雙光源系統(tǒng)，含兩組高效率橢圓集光燈系統(tǒng)，計算機控制電源切換 700 (W) x 700 (D) x800(H) 集成外箱(選購雙光源后的材積)
偏置光源	150 W 白光偏光光源
全自動多接面量測套件	可量測: aa-si; au-si double-junction; aau-si; auu-si; aug-si triple-junction; III-V double-junction and triple-junction; OPV double-junction
內(nèi)部量子效率量測模塊	2"積分球硅偵測器，波長范圍 300 nm~ 1100 nm 積分球切換機構(gòu) 反射率 / IQE 量測軟件
穿透率量測模塊	穿透率量測偵測器，si 300 nm ~ 1100 nm 穿透率量測軟件量測樣品臺，樣品大小 max. 20 x 20 x 3mm3?(min. 10 x 10 x 1 mm3)
長波長擴充套件	Ge 鍺參考偵測器，900 nm ~ 1800 nm 含校正報告 InGaAs 參考偵測器，1000 nm ~ 2000 nm 含校正報告
UPS	Online UPS > 1.5 KVA
Mapping	XY自動平臺，200 nm x 200 nm行程，2.5 um resolution Mapping量測軟件任意波長QE掃描等功能自動光強校正 / 樣品量測 / 位置調(diào)整
其他	直流量測模式、客制化樣品臺、數(shù)字影像顯微鏡下針監(jiān)控系統(tǒng)、反射率內(nèi)部量子效率量測、吸收光譜量測(需選購反射率及穿透率套件)、系統(tǒng)使用效益統(tǒng)計分析、制成改進分析功能、供電系統(tǒng)分析、光束引致電流空間掃描3D掃描量測與分析、多點EQE自動量測

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